演講題目:SEM的微觀世界
講者姓名:郭瀚介工程師
工作單位:益弘儀器股份有限公司
主持人:廖炳傑教授
記錄者:詹英瀚
記錄者指導教授:何明雄 邱英嘉
講座日期:101/4/17(週二)09:00~12:00
講者姓名:郭瀚介工程師
工作單位:益弘儀器股份有限公司
主持人:廖炳傑教授
記錄者:詹英瀚
記錄者指導教授:何明雄 邱英嘉
講座日期:101/4/17(週二)09:00~12:00
心得:
這次講座讓我了解,掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。掃描式電子顯微鏡(SEM)有很大的景深,對粗糙的表面,例如凹凸不平的金屬斷面顯示得很清楚,而立體感很強。所以,掃描電鏡是研究固體試片表面形貌的有力工具。
這次講座讓我了解,掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。掃描式電子顯微鏡(SEM)有很大的景深,對粗糙的表面,例如凹凸不平的金屬斷面顯示得很清楚,而立體感很強。所以,掃描電鏡是研究固體試片表面形貌的有力工具。